No image available for this title

Studi pengaruh proses Anil terhadap cacat kristal dengan sampel uji kristal tunggal silikon yang ditumbuhkan dengan metode Czochralski



Tidak Tersedia Deskripsi


Ketersediaan

Tidak ada salinan data


Informasi Detil

Judul Seri
Jurnal IPTEK: Institut Teknologi, Serpong, Tangerang
No. Panggil
-
Penerbit : .,
Deskripsi Fisik
III (VII) Agustus 1997 : 33-38
Bahasa
English
ISBN/ISSN
-
Klasifikasi
-
Tipe Isi
-
Tipe Media
-
Tipe Pembawa
-
Edisi
-
Subyek
-
Info Detil Spesifik
-
Pernyataan Tanggungjawab

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain




Informasi


DETAIL CANTUMAN


Kembali ke sebelumnyaXML DetailCite this