Detail Cantuman
Advanced Search![No image available for this title](./images/default/image.png)
Invesgation of Annealing Effect on The Forward Bias and Leakge Current Changes of Type P-6H-SIC Schottky Diodes with SiO2 Ramp Profile after Irradiated Up to 1,75 MGY
Tidak Tersedia Deskripsi
Ketersediaan
Tidak ada salinan data
Informasi Detil
Judul Seri |
URANIA
|
---|---|
No. Panggil |
-
|
Penerbit | : ., |
Deskripsi Fisik |
15 (1) Januari 2009 : 20-24 (RAK MATEMATIKA & IPA)
|
Bahasa |
English
|
ISBN/ISSN |
-
|
Klasifikasi |
-
|
Tipe Isi |
-
|
Tipe Media |
-
|
---|---|
Tipe Pembawa |
-
|
Edisi |
-
|
Subyek | |
Info Detil Spesifik |
-
|
Pernyataan Tanggungjawab |
Usman Sudjadi
|
Versi lain/terkait
Tidak tersedia versi lain