Text
Analisis spektrum x-ray diffraction lapisan komposit Ni-AIN/Si3N4 dengan pengaruh variasi konsentrasi Si3N4 terhadap kekerasan
Bibliografi : lembar 40-44
SS00026562 | SK 26562 | UPT Perpustakaan UNJ (CD.03.2021.002) | Tersedia |
Tidak tersedia versi lain