Gaya APA

Syakbaniah, . et al (). Menentukan rapat keadaan terlokalisasi lapisan -i dan-n-a-Si:H menggunakan metode C-V . : .

Gaya MLA

Syakbaniah, . et al. "Menentukan rapat keadaan terlokalisasi lapisan -i dan-n-a-Si:H menggunakan metode C-V ". : , . .