Studi Spektroskopi Ellipsometri lapisan tipis Amorf Silikon Karbon (a-SIC:H) yang dihasilkan dengan metode deposisi DC Sputtering

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

Studi Spektroskopi Ellipsometri lapisan tipis Amorf Silikon Karbon (a-SIC:H) yang dihasilkan dengan metode deposisi DC Sputtering

Yan Ady - Nama Orang; dkk. - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Tidak ada salinan data

Informasi Detail

Judul Seri: Makara: Jur. Penelitian Univ. Indonesia
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: 5 (2) Seri Sains, Desember 2001 : 46-50
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: Makara: Jur. Penelitian Univ. Indonesia
Sains
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Yan Ady; dkk.

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar